PAOLINI, Chiara

PAOLINI, Chiara  

Dip. FISICA SPERIMENTALE (attivo dal 01/01/1900 al 31/12/2012)  

Mostra records
Risultati 1 - 3 di 3 (tempo di esecuzione: 0.006 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Age-Related Variations in Takotsubo Syndrome 2020 Cammann V.L.; Szawan K.A.; Stahli B.E.; Kato K.; Budnik M.; Wischnewsky M.; Dreiding S.; Levinson R.A.; Di Vece D.; Gili S.; Citro R.; Bossone E.; Neuhaus M.; Franke J.; Meder B.; Jaguszewski M.; Noutsias M.; Knorr M.; Heiner S.; D'Ascenzo F.; Dichtl W.; Burgdorf C.; Kherad B.; Tschope C.; Sarcon A.; Shinbane J.; Rajan L.; Michels G.; Pfister R.; Cuneo A.; Jacobshagen C.; Karakas M.; Koenig W.; Pott A.; Meyer P.; Roffi M.; Banning A.; Wolfrum M.; Cuculi F.; Kobza R.; Fischer T.A.; Vasankari T.; Airaksinen K.E.J.; Napp L.C.; Dworakowski R.; MacCarthy P.; Kaiser C.; Osswald S.; Galiuto L.; Chan C.; Bridgman P.; Beug D.; Delmas C.; Lairez O.; Gilyarova E.; Shilova A.; Gilyarov M.; El-Battrawy I.; Akin I.; Polednikova K.; Tousek P.; Winchester D.E.; Galuszka J.; Ukena C.; Poglajen G.; Carrilho-Ferreira P.; Hauck C.; Paolini C.; Bilato C.; Kobayashi Y.; Shoji T.; Ishibashi I.; Takahara M.; Himi T.; Din J.; Al-Shammari A.; Prasad A.; Rihal C.S.; Liu K.; Schulze P.C.; Bianco M.; Jorg L.; Rickli H.; Pestana G.; Nguyen T.H.; Bohm M.; Maier L.S.; Pinto F.J.; Widimsky P.; Felix S.B.; Braun-Dullaeus R.C.; Rottbauer W.; Hasenfuss G.; Pieske B.M.; Schunkert H.; Borggrefe M.; Thiele H.; Bauersachs J.; Katus H.A.; Horowitz J.D.; Di Mario C.; Munzel T.; Crea F.; Bax J.J.; Luscher T.F.; Ruschitzka F.; Ghadri J.R.; Opolski G.; Templin C.
Prediction of short- and long-term mortality in takotsubo syndrome: the InterTAK Prognostic Score 2019 Wischnewsky M.B.; Candreva A.; Bacchi B.; Cammann V.L.; Kato K.; Szawan K.A.; Gili S.; D'Ascenzo F.; Dichtl W.; Citro R.; Bossone E.; Neuhaus M.; Franke J.; Sorici-Barb I.; Jaguszewski M.; Noutsias M.; Knorr M.; Heiner S.; Burgdorf C.; Kherad B.; Tschope C.; Sarcon A.; Shinbane J.; Rajan L.; Michels G.; Pfister R.; Cuneo A.; Jacobshagen C.; Karakas M.; Koenig W.; Pott A.; Meyer P.; Arroja J.D.; Banning A.; Cuculi F.; Kobza R.; Fischer T.A.; Vasankari T.; Airaksinen K.E.J.; Napp L.C.; Budnik M.; Dworakowski R.; MacCarthy P.; Kaiser C.; Osswald S.; Galiuto L.; Chan C.; Bridgman P.; Beug D.; Delmas C.; Lairez O.; El-Battrawy I.; Akin I.; Gilyarova E.; Shilova A.; Gilyarov M.; Kozel M.; Tousek P.; Winchester D.E.; Galuszka J.; Ukena C.; Poglajen G.; Carrilho-Ferreira P.; Hauck C.; Paolini C.; Bilato C.; Prasad A.; Rihal C.S.; Liu K.; Schulze P.C.; Bianco M.; Jorg L.; Rickli H.; Nguyen T.H.; Kobayashi Y.; Bohm M.; Maier L.S.; Pinto F.J.; Widimsky P.; Borggrefe M.; Felix S.B.; Opolski G.; Braun-Dullaeus R.C.; Rottbauer W.; Hasenfuss G.; Pieske B.M.; Schunkert H.; Thiele H.; Bauersachs J.; Katus H.A.; Horowitz J.; Di Mario C.; Munzel T.; Crea F.; Bax J.J.; Luscher T.F.; Ruschitzka F.; Ghadri J.R.; Templin C.
Time-resolved ion beam-induced charge collection measurement of minority carrier lifetime in semiconductor power devices by using Gunn's theorem 2003 Manfredotti, C; Fizzotti, F; Lo Giudice, A; Jaksic, M; Pastuovic, Z; Paolini, C; Olivero, P; Vittone, E.