Alignment of the CMS silicon strip tracker during stand-alone commissioning

Adam, W.; Bergauer, T.; Dragicevic, M.; Friedl, M.; Fruehwirth, R.; Haensel, S.; Hrubec, J.; Krammer, M.; Oberegger, M.; Pernicka, M.; Schmid, S.; Stark, R.; Steininger, H.; Uhl, D.; Waltenberger, W.; Widl, E.; Mechelen, P. V.; Cardaci, M.; Beaumont, W.; Langhe, E. d.; de Wolf, E. A.; Delmeire, E.; Hashemi, M.; Bouhali, O.; Charaf, O.; Clerbaux, B.; Dewulf, J. P.; Elgammal, S.; Hammad, G.; Lentdecker, G. d.; Marage, P.; Velde, C. V.; Vanlaer, P.; Wickens, J.; Adler, V.; Devroede, O.; Weirdt, S. D.; D'Hondt, J.; Goorens, R.; Heyninck, J.; Maes, J.; Mozer, M.; Tavernier, S.; Lancker, L. V.; Mulders, P. V.; Villella, I.; Wastiels, C.; Bonnet, J. L.; Bruno, G.; Callatay, B. D.; Florins, B.; Giammanco, A.; Gregoire, G.; Keutgen, T.; Kcira, D.; Lemaitre, V.; Michotte, D.; Militaru, O.; Piotrzkowski, K.; Quertermont, L.; Roberfroid, V.; Rouby, X.; Teyssier, D.; Daubie, E.; Anttila, E.; Czellar, S.; Engstrom, P.; Harkonen, J.; Karimaki, V.; Kostesmaa, J.; Kuronen, A.; Lampen, T.; Linden, T.; Luukka, P. R.; Maenaa, T.; Michal, S.; Tuominen, E.; Tuominiemi, J.; Ageron, M.; Baulieu, G.; Bonnevaux, A.; Boudoul, G.; Chabanat, E.; Chabert, E.; Chierici, R.; Contardo, D.; Negra, R. D.; Dupasquier, T.; Gelin, G.; Giraud, N.; Guillot, G.; Estre, N.; Haroutunian, R.; Lumb, N.; Perries, S.; Schirra, F.; Trocme, B.; Vanzetto, S.; Agram, J. L.; Blaes, R.; Drouhin, F.; Ernenwein, J. P.; Fontaine, J. C.; Berst, J. D.; Brom, J. M.; Didierjean, F.; Goerlach, U.; Graehling, P.; Gross, L.; Hosselet, J.; Juillot, P.; Lounis, A.; Maazouzi, C.; Olivetto, C.; Strub, R.; Hove, P. V.; Anagnostou, G.; Brauer, R.; Esser, H.; Feld, L.; Karpinski, W.; Klein, K.; Kukulies, C.; Olzem, J.; Ostapchuk, A.; Pandoulas, D.; Pierschel, G.; Raupach, F.; Schael, S.; Schwering, G.; Sprenger, D.; Thomas, M.; Weber, M.; Wittmer, B.; Wlochal, M.; Beissel, F.; Bock, E.; Flugge, G.; Gillissen, C.; Hermanns, T.; Heydhausen, D.; Jahn, D.; Kaussen, G.; Linn, A.; Perchalla, L.; Poettgens, M.; Pooth, O.; Stahl, A.; Zoeller, M. H.; Buhmann, P.; Butz, E.; Flucke, G.; Hamdorf, R.; Hauk, J.; Klanner, R.; Pein, U.; Schleper, P.; Steinbrueck, G.; Bluem, P.; Boer, W. D.; Dierlamm, A.; Dirkes, G.; Fahrer, M.; Frey, M.; Furgeri, A.; Hartmann, F.; Heier, S.; Hoffmann, K. H.; Kaminski, J.; Ledermann, B.; Liamsuwan, T.; Mueller, S.; Mueller, T.; Schilling, F. P.; Simonis, H. J.; Steck, P.; Zhukov, V.; Cariola, P.; Robertis, G. D.; Ferorelli, R.; Fiore, L.; Preda, M.; Sala, G.; Silvestris, L.; Tempesta, P.; Zito, G.; Creanza, D.; Filippis, N. D.; Palma, M. D.; Giordano, D.; Maggi, G.; Manna, N.; My, S.; Selvaggi, G.; Albergo, S.; Chiorboli, M.; Costa, S.; Galanti, M.; Giudice, N.; Guardone, N.; Noto, F.; Potenza, R.; Saizu, M. A.; Sparti, V.; Sutera, C.; Tricomi, A.; Tuve, C.; Brianzi, M.; Civinini, C.; Maletta, F.; Manolescu, F.; Meschini, M.; Paoletti, S.; Sguazzoni, G.; Broccolo, B.; Ciulli, V.; Focardi, R. D. E.; Frosali, S.; Genta, C.; Landi, G.; Lenzi, P.; Macchiolo, A.; Magini, N.; Parrini, G.; Scarlini, E.; Cerati, G.; Azzi, P.; Bacchetta, N.; Candelori, A.; Dorigo, T.; Kaminsky, A.; Karaevski, S.; Khomenkov, V.; Reznikov, S.; Tessaro, M.; Bisello, D.; Mattia, M. D.; Giubilato, P.; Loreti, M.; Mattiazzo, S.; Nigro, M.; Paccagnella, A.; Pantano, D.; Pozzobon, N.; Tosi, M.; Bilei, G. M.; Checcucci, B.; Fano, L.; Servoli, L.; Ambroglini, F.; Babucci, E.; Benedetti, D.; Biasini, M.; Caponeri, B.; Covarelli, R.; Giorgi, M.; Lariccia, P.; Mantovani, G.; Marcantonini, M.; Postolache, V.; Santocchia, A.; Spiga, D.; Bagliesi, G.; Balestri, G.; Berretta, L.; Bianucci, S.; Boccali, T.; Bosi, F.; Bracci, F.; Castaldi, R.; Ceccanti, M.; Cecchi, R.; Cerri, C.; Cucoanes, A. S.; Dell'Orso, R.; Dobur, D.; Dutta, S.; Giassi, A.; Giusti, S.; Kartashov, D.; Kraan, A.; Lomtadze, T.; Lungu, G. A.; Magazzu, G.; Mammini, P.; Mariani, F.; Martinelli, G.; Moggi, A.; Palla, F.; Palmonari, F.; Petragnani, G.; Profeti, A.; Raffaelli, F.; Rizzi, D.; Sanguinetti, G.; Sarkar, S.; Sentenac, D.; Serban, A. T.; Slav, A.; Soldani, A.; Spagnolo, P.; Tenchini, R.; Tolaini, S.; Venturi, A.; Verdini, P. G.; Vos, M.; Zaccarelli, L.; Avanzini, C.; Basti, A.; Benucci, L.; Bocci, A.; Cazzola, U.; Fiori, F.; Linari, S.; Massa, M.; Messineo, A.; Segneri, G.; Tonelli, G.; Azzurri, P.; Bernardini, J.; Borrello, L.; Calzolari, F.; Foa, L.; Gennai, S.; Ligabue, F.; Petrucciani, G.; Rizzi, A.; Yang, Z.; Benotto, F.; Demaria, N.; Dumitrache, F.; Farano, R.; Borgia, Maria Assunta; Castello, Roberto; Costa, Marco; Migliore, Ernesto; Romero, Alessandra; Abbaneo, D.; Abbas, M.; Ahmed, I.; Akhtar, I.; Albert, E.; Bloch, C.; Breuker, H.; Butt, S.; Buchmuller, O.; Cattai, A.; Delaere, C.; Delattre, M.; Edera, L. M.; Engstrom, P.; Eppard, M.; Gateau, M.; Gill, K.; Giolo Nicollerat, A. S.; Grabit, R.; Honma, A.; Huhtinen, M.; Kloukinas, K.; Kortesmaa, J.; Kottelat, L. J.; Kuronen, A.; Leonardo, N.; Ljuslin, C.; Mannelli, M.; Masetti, L.; Marchioro, A.; Mersi, S.; Michal, S.; Mirabito, L.; Muffat Joly, J.; Onnela, A.; Paillard, C.; Pal, I.; Pernot, J. F.; Petagna, P.; Petit, P.; Piccut, C.; Pioppi, M.; Postema, H.; Ranieri, R.; Ricci, D.; Rolandi, G.; Ronga, F.; Sigaud, C.; Syed, A.; Siegrist, P.; Tropea, P.; Troska, J.; Tsirou, A.; Donckt, M. V.; Vasey, F.; Alagoz, E.; Amsler, C.; Chiochia, V.; Regenfus, C.; Robmann, P.; Rochet, J.; Rommerskirchen, T.; Schmidt, A.; Steiner, S.; Wilke, L.; Church, I.; Cole, J.; Coughlan, J.; Gay, A.; Taghavi, S.; Tomalin, I.; Bainbridge, R.; Cripps, N.; Fulcher, J.; Hall, G.; Noy, M.; Pesaresi, M.; Radicci, V.; Raymond, D. M.; Sharp, P.; Stoye, M.; Wingham, M.; Zorba, O.; Goitom, I.; Hobson, P. R.; Reid, I.; Teodorescu, L.; Hanson, G.; Jeng, G. Y.; Liu, H.; Pasztor, G.; Satpathy, A.; Stringer, R.; Mangano, B.; Affolder, K.; Affolder, T.; Allen, A.; Barge, D.; Burke, S.; Callahan, D.; Campagnari, C.; Crook, A.; D'Alfonso, M.; Dietch, J.; Garberson, J.; Hale, D.; Incandela, H.; Incandela, J.; Jaditz, S.; Kalavase, P.; Kreyer, S.; Kyre, S.; Lamb, J.; Guinness, C. M.; Mills, C.; Nguyen, H.; Nikolic, M.; Lowette, S.; Rebassoo, F.; Ribnik, J.; Richman, J.; Rubinstein, N.; Sanhueza, S.; Shah, Y.; Simms, L.; Staszak, D.; Stoner, J.; Stuart, D.; Swain, S.; Vlimant, J. R.; White, D.; Ulmer, K. A.; Wagner, S. R.; Bagby, L.; Bhat, P. C.; Burkett, K.; Cihangir, S.; Gutsche, O.; Jensen, H.; Johnson, M.; Luzhetskiy, N.; Mason, D.; Miao, T.; Moccia, S.; Noeding, C.; Ronzhin, A.; Skup, E.; Spalding, W. J.; Spiegel, L.; Tkaczyk, S.; Yumiceva, F.; Zatserklyaniy, A.; Zerev, E.; Anghel, I.; Bazterra, V. E.; Gerber, C. E.; Khalatian, S.; Shabalina, E.; Baringer, P.; Bean, A.; Chen, J.; Hinchey, C.; Martin, C.; Moulik, T.; Robinson, R.; Gritsan, A. V.; Lae, C. K.; Tran, N. V.; Everaerts, P.; Hahn, K. A.; Harris, P.; Nahn, S.; Rudolph, M.; Sung, K.; Betchart, B.; Demina, R.; Gotra, Y.; Korjenevski, S.; Miner, D.; Orbaker, D.; Christofek, L.; Hooper, R.; Landsberg, G.; Nguyen, D.; Narain, M.; Speer, T.; Tsang, K. V.

doi:10.1088/1748-0221/4/07/T07001

The results of the CMS tracker alignment analysis are presented using the data from cosmic tracks, optical survey information, and the laser alignment system at the Tracker Integration Facility at CERN. During several months of operation in the spring and summer of 2007, about five million cosmic track events were collected with a partially active CMS Tracker. This allowed us to perform first alignment of the active silicon modules with the cosmic tracks using three different statistical approaches; validate the survey and laser alignment system performance; and test the stability of Tracker structures under various stresses and temperatures ranging from +15 degrees C to -15 degrees C. Comparison with simulation shows that the achieved alignment precision in the barrel part of the tracker leads to residual distributions similar to those obtained with a random misalignment of 50 (80) mu m RMS in the outer (inner) part of the barrel.