Observation of Hard Scattering In Photoproduction At Hera

Derrick, M.; Krakauer, D.; Magill, S.; Musgrave, B.; Repond, J.; Sugano, K.; Stanek, R.; Talaga, R. L.; Thron, J.; Arzarello, F.; Ayed, R.; Barbagli, G.; Bari, G.; Basile, M.; Bellagamba, L.; Boscherini, D.; Bruni, G.; Bruni, P.; Romeo, G. C.; Castellini, G.; Chiarini, M.; Cifarelli, L.; Cindolo, F.; Ciralli, F.; Contin, A.; Dauria, S.; Delpapa, C.; Frasconi, F.; Giusti, P.; Iacobucci, G.; Laurenti, G.; Levi, G.; Lin, Q.; Lisowski, B.; Maccarrone, G.; Margotti, A.; Massam, T.; Nania, R.; Nemoz, C.; Palmonari, F.; Sartorelli, G.; Timellini, R.; Garcia, Y. Z.; Zichichi, A.; Bargende, A.; Barreiro, F.; Crittenden, J.; Dabbous, H.; Desch, K.; Diekmann, B.; Geerts, M.; Geitz, G.; Gutjahr, B.; Hartmann, H.; Hartmann, J.; Haun, D.; Heinloth, K.; Hilger, E.; Jakob, H. P.; Kramarczyk, S.; Kuckes, M.; Mass, A.; Mengel, S.; Mollen, J.; Musch, H.; Paul, E.; Schattevoy, R.; Schneider, B.; Schneider, J. L.; Wedemeyer, R.; Cassidy, A.; Cussans, D. G.; Dyce, N.; Fawcett, H. F.; Foster, B.; Gilmore, R.; Heath, G. P.; Lancaster, M.; Llewellyn, T. J.; Malos, J.; C. J. S.,; Tapper, R. J.; Wilson, S. S.; Rau, R. R.; Bernstein, A.; Caldwell, A.; Gialas, I.; Parsons, J. A.; Ritz, S.; Sciulli, F.; Straub, P. B.; Wai, L.; Yang, S.; Barillari, T.; Schioppa, M.; Susinno, G.; Burkot, W.; Chwastowski, J.; Dwurazny, A.; Eskreys, A.; Niziol, B.; Jakubowski, Z.; Piotrzkowski, K.; Zachara, M.; Zawiejski, L.; Borzemski, P.; Eskreys, K.; Jelen, K.; Kisielewska, D.; Kowalski, T.; Kulka, J.; Rulikowskazarebska, E.; Suszycki, L.; Zajac, J.; Kedzierski, T.; Kotanski, A.; Przybycien, M.; L. A. T.,; Behrens, U.; Bienlein, J. K.; Coldewey, C.; Dannemann, A.; Dierks, K.; Dorth, W.; Drews, G.; Erhard, P.; Flasinski, M.; Fleck, I.; Furtjes, A.; Glaser, R.; Gottlicher, P.; Haas, T.; Hagge, L.; Hain, W.; Hasell, D.; Hultschig, H.; Jahnen, G.; Joos, P.; Kasemann, M.; Klanner, R.; Koch, W.; Kotz, U.; Kowalski, H.; Labs, J.; Ladage, A.; Lohr, B.; Lowe, M.; Luke, D.; Mainusch, J.; Manczak, O.; Momayezi, M.; Nickel, S.; Notz, D.; Park, I.; Posnecker, K. U.; Rohde, M.; Ros, E.; Schneekloth, U.; Schroeder, J.; Schulz, W.; Selonke, F.; Tscheslog, E.; Tsurugai, T.; Turkot, F.; Vogel, W.; Woeniger, T.; Wolf, G.; Youngman, C.; Grabosch, H. J.; Leich, A.; Meyer, A.; Rethfeldt, C.; Schlenstedt, S.; Casalbuoni, R.; Decurtis, S.; Dominici, D.; Francescato, A.; Nuti, M.; Pelfer, P.; Anzivino, G.; Casaccia, R.; Laakso, I.; Depasquale, S.; Qian, S.; Votano, L.; Bamberger, A.; Freidhof, A.; Poser, T.; Soldnerrembold, S.; Theisen, G.; Trefzger, T.; Brook, N. H.; Bussey, P. J.; Doyle, A. T.; Forbes, J. R.; Jamieson, V. A.; Raine, C.; Saxon, D. H.; Gloth, G.; Holm, U.; Kammerlocher, H.; Krebs, B.; Neumann, T.; Wick, K.; Hofmann, A.; Kroger, W.; Kruger, J.; Lohrmann, E.; Milewski, J.; Nakahata, M.; Pavel, N.; Poelz, G.; Salomon, R.; Seidman, A.; Schott, W.; Wiik, B. H.; Zetsche, F.; Bacon, T. C.; Butterworth, I.; Markou, C.; Mcquillan, D.; Miller, D. B.; Mobayyen, M. M.; Prinias, A.; Vorvolakos, A.; Bienz, T.; Kreutzmann, H.; Mallik, U.; Mccliment, E.; Roco, M.; Wang, M. Z.; Cloth, P.; Filges, D.; Chen, L.; Imlay, R.; Kartik, S.; Kim, H. J.; Mcneil, R. R.; Metcalf, W.; Cases, G.; Hervas, L.; Labarga, L.; Delpeso, J.; Roldan, J.; Terron, J.; Detroconiz, J. F.; Ikraiam, F.; Mayer, J. K.; Smith, G. R.; Corriveau, F.; Gilkinson, D. J.; Hanna, D. S.; Hung, L. W.; Mitchell, J. W.; Patel, P. M.; Sinclair, L. E.; Stairs, D. G.; Ullmann, R.; Bashindzhagyan, G. L.; Ermolov, P. F.; Golubkov, Y. A.; Kuzmin, V. A.; Kuznetsov, E. N.; Savin, A. A.; Voronin, A. G.; Zotov, N. P.; Bentvelsen, S.; Dake, A.; Engelen, J.; Dejong, P.; Dejong, S.; Dekamps, M.; Kooijman, P.; Kruse, A.; Vanderlugt, H.; Odell, V.; Straver, J.; Tenner, A.; Tiecke, H.; Uijterwaal, H.; Vermeulen, J.; Wiggers, L.; Dewolf, E.; Vanwoudenberg, R.; Yoshida, R.; Bylsma, B.; Durkin, L. S.; Li, C.; Ling, T. Y.; Mclean, K. W.; Murray, W. N.; Park, S. K.; Romanowski, T. A.; Seidlein, R.; Blair, G. A.; Butterworth, J. M.; Byrne, A.; Cashmore, R. J.; Coopersarkar, A. M.; R. C. E.,; Gingrich, D. M.; Hallambaker, P. M.; Harnew, N.; Khatri, T.; Long, K. R.; Luffman, P.; Mcarthur, I.; Morawitz, P.; Nash, J.; S. J. P.,; Roocroft, N. C.; Wilson, F. F.; Abbiendi, G.; Brugnera, R.; Carlin, R.; Dalcorso, F.; Degiorgi, M.; Dosselli, U.; Fanin, C.; Gasparini, F.; Limentani, S.; Morandin, M.; Posocco, M.; Stanco, L.; Stroili, R.; Voci, C.; Lim, J. N.; B. Y., Oh; Whitmore, J.; Bonori, M.; Contino, U.; Dagostini, G.; Guida, M.; Iori, M.; Mari, S.; Marini, G.; Mattioli, M.; Monaldi, D.; Nigro, A.; Hart, J. C.; Mccubbin, N. A.; Shah, T. P.; Short, T. L.; Barberis, E.; Cartiglia, N.; Heusch, C.; Hubbard, B.; Leslie, J.; J. S. T.,; Oshaughnessy, K.; Sadrozinski, H. F.; Seiden, A.; Badura, E.; Biltzinger, J.; Chaves, H.; Rost, M.; Seifert, R. J.; Walenta, A. H.; Weihs, W.; Zech, G.; Dagan, S.; Heifetz, R.; Levy, A.; Zerzion, D.; Hasegawa, T.; Hazumi, M.; Ishii, T.; Kasai, S.; Kuze, M.; Nagasawa, Y.; Nakao, M.; Okuno, H.; Tokushuku, K.; Watanabe, T.; Yamada, S.; Chiba, M.; Hamatsu, R.; Hirose, T.; Kitamura, S.; Nagayama, S.; Nakamitsu, Y.; Arneodo, M.; Costa, Marco; Ferrero, M. I.; Lamberti, L.; Maselli, S.; Peroni, Cristiana; Solano, Ada Maria; Staiano, A.; Dardo, M.; Bailey, D. C.; Bandyopadhyay, D.; Benard, F.; Bhadra, S.; Brkic, M.; Burow, B. D.; Chlebana, F. S.; Crombie, M. B.; Hartner, G. F.; Levman, G. M.; Martin, J. F.; Orr, R. S.; Prentice, J. D.; Sampson, C. R.; Stairs, G. G.; Teuscher, R. J.; Yoon, T. S.; Bullock, F. W.; Catterall, C. D.; Giddings, J. C.; Jones, T. W.; Khan, A. M.; Lane, J. B.; Makkar, P. L.; Shaw, D.; Shulman, J.; Blankenship, K.; Kochocki, J.; Lu, B.; L. W., Mo; Charchula, K.; Ciborowski, J.; Gajewski, J.; Grzelak, G.; Kasprzak, M.; Krzyzanowski, M.; Muchorowski, K.; Nowak, R. J.; Pawlak, J. M.; Stojda, K.; Stopczynski, A.; Szwed, R.; Tymieniecka, T.; Walczak, R.; Wroblewski, A. K.; Zakrzewski, J. A.; Zarnecki, A. F.; Adamus, M.; Abramowicz, H.; Eisenberg, Y.; Glasman, C.; Karshon, U.; Montag, A.; Revel, D.; Shapira, A.; Ali, I.; Behrens, B.; Camerini, U.; Dasu, S.; Fordham, C.; Foudas, C.; Goussiou, A.; Lomperski, M.; Loveless, R. J.; Nylander, P.; Ptacek, M.; Reeder, D. D.; Smith, W. H.; Silverstein, S.; Frisken, W. R.; Furutani, K. M.; Iga, Y.

doi:10.1016/0370-2693(92)91280-M

We report a study of electron proton collisions at very low Q2, corresponding to virtual photoproduction at centre of mass energies in the range 100-295 GeV. The distribution in transverse energy of the observed hadrons is much harder than can be explained by soft processes. Some of the events show back-to-back two-jet production at the rate and with the characteristics expected from hard two-body scattering. A subset of the two-jet events have energy in the electron direction consistent with that expected from the photon remnant in resolved photon processes.