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Effect of structural in-depth heterogeneities on electrical properties of Pb(Zr0.52Ti0.48) O3 thin films as revealed by nano-beam X-ray diffraction

Bernasconi A.;
2016-01-01
2016
120
10
104101
104106
Vaxelaire N.; Kovacova V.; Bernasconi A.; Le Rhun G.; Alvarez-Murga M.; Vaughan G.B.M.; Defay E.; Gergaud P.
03A-Articolo su Rivista
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