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Study of the uniformity of high resistivity neutron doped silicon wafers for silicon drift detectors

BEOLE', Stefania
;
2001-01-01
2001
473
319
325
S. BEOLE'; V. BONVICINI; P. BURGER; G. CASSE; P. GIUBELLINO; M. IDZIK; A. KOLOZHVARI; A. RASHEVSKY; L. RICCATI; A. VACCHI; N. ZAMPA
03A-Articolo su Rivista
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