The development of IBIC microscopy at the 100 kV ion implanter of the University of Torino (LIUTo) and the application for the assessment of the radiation hardness of a silicon photodiode
Corte, EmilioCo-first
;Bortone, AlbertoCo-first
;Nieto Hernandez, Elena;Ceresa, Carlo;Jaksic, Milko;Vittone, Ettore
;Ditalia Tchernij, SviatoslavLast
2025-01-01
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