CINECA IRIS Institutional Research Information System

Complete optical characterization of imperfect hydrogenated amorphous silicon layers by spectroscopic ellipsometry and spectroscopic reflectometry

VITTONE, Ettore
1999-01-01
1999
THIN SOLID FILMS
343/344
293
-
D. FRANTA; I. OHLIDAL; D. MUNZAR; J. HORA; K. NAVRATIL; C. MANFREDOTTI; F. FIZZOTTI; E. VITTONE
03A-Articolo su Rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2318/23327
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact