Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

Neri, N.; Avanzini, C.; Batignani, G.; Bettarini, S.; Bosi, F.; Ceccanti, M.; Cenci, R.; Cervelli, A.; Crescioli, F.; Dell'Orso, M.; Forti, F.; Giannetti, P.; Giorgi, M. A.; Gregucci, S.; Mammini, P.; Marchiori, G.; Massa, M.; Morsani, F.; Paoloni, E.; Piendibene, M.; Profeti, A.; Rizzo, G.; Sartori, L.; Walsh, J.; Yurtsev, E.; Lusiani, A.; Manghisoni, M.; Re, V.; Traversi, G.; Bruschi, M.; Sipio, R. D.; Fabbri, L.; Giacobbe, B.; Gabrielli, A.; Giorgi, F.; Pellegrini, G.; Sbarra, C.; Semprini, N.; Spighi, R.; Valentinetti, S.; Villa, M.; Zoccoli, A.; Andreoli, C.; Gaioni, L.; Pozzati, E.; Ratti, L.; Speziali, V.; Gamba, Diego; Giraudo, G.; Mereu, P.; Dalla Betta, G. F.; Soncini, G.; Fontana, G.; Bomben, M.; Bosisio, L.; Cristaudo, P.; Giacomini, G.; Iugovaz, D.; Lanceri, L.; Rashevskaya, I.; Vitale, L.; Venier, G.

doi:10.1016/j.nima.2010.02.193

Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

N. Neri;C. Avanzini;G. Batignani;S. Bettarini;F. Bosi;M. Ceccanti;R. Cenci;A. Cervelli;F. Crescioli;M. Dell'Orso;F. Forti;P. Giannetti;M. A. Giorgi;S. Gregucci;P. Mammini;G. Marchiori;M. Massa;F. Morsani;E. Paoloni;M. Piendibene;A. Profeti;G. Rizzo;L. Sartori;J. Walsh;E. Yurtsev;A. Lusiani;M. Manghisoni;V. Re;G. Traversi;M. Bruschi;R. D. Sipio;L. Fabbri;B. Giacobbe;A. Gabrielli;F. Giorgi;G. Pellegrini;C. Sbarra;N. Semprini;R. Spighi;S. Valentinetti;M. Villa;A. Zoccoli;C. Andreoli;L. Gaioni;E. Pozzati;L. Ratti;V. Speziali;GAMBA, Diego;G. Giraudo;P. Mereu;G. F. Dalla Betta;G. Soncini;G. Fontana;M. Bomben;L. Bosisio;P. Cristaudo;G. Giacomini;D. Iugovaz;L. Lanceri;I. Rashevskaya;L. Vitale;G. Venier

2010-01-01

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)

	Anno
	
				2010
			
	Titolo rivista
	
				NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
			
	N. Volume
	
				623
			
	Pagine (da)
	
				195
			
	Pagine (a)
	
				197
			
	DOI
	
				https://dx.doi.org/10.1016/j.nima.2010.02.193
			
	Tutti gli autori
	
						N.  Neri;C.  Avanzini;G.  Batignani;S.  Bettarini;F.  Bosi;M.  Ceccanti;R.  Cenci;A.  Cervelli;F.  Crescioli;M.  Dell'Orso;F.  Forti;P.  Giannetti;M. ...espandi
						
	Appare nelle tipologie:
	
				03A-Articolo su Rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2318/82355

Citazioni

ND

6

6

Nome	Dominio	Durata	Descrizione
s_.*	plu.mx	sessione	recupero grafico citazioni sociali da plumx
A_.*	core.ac.uk	7 giorni	recupero pubblicazioni consigliate per il pannello core-recommander
GS_.*	gstatic.com	richiesta http	visualizza grafico citazioni
CC_.*	creativecommons.org	richiesta http	visualizza licenza bitstream

CINECA IRIS Institutional Research Information System

Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

2010-01-01

Scheda breve Scheda completa Scheda completa (DC)

Informazioni

Citazioni

social impact

Conferma cancellazione

Scheda breve

Scheda completa

Scheda completa (DC)