CINECA IRIS Institutional Research Information System

Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

N. Neri;C. Avanzini;G. Batignani;S. Bettarini;F. Bosi;M. Ceccanti;R. Cenci;A. Cervelli;F. Crescioli;M. Dell'Orso;F. Forti;P. Giannetti;M. A. Giorgi;S. Gregucci;P. Mammini;G. Marchiori;M. Massa;F. Morsani;E. Paoloni;M. Piendibene;A. Profeti;G. Rizzo;L. Sartori;J. Walsh;E. Yurtsev;A. Lusiani;M. Manghisoni;V. Re;G. Traversi;M. Bruschi;R. D. Sipio;L. Fabbri;B. Giacobbe;A. Gabrielli;F. Giorgi;G. Pellegrini;C. Sbarra;N. Semprini;R. Spighi;S. Valentinetti;M. Villa;A. Zoccoli;C. Andreoli;L. Gaioni;E. Pozzati;L. Ratti;V. Speziali;GAMBA, Diego;G. Giraudo;P. Mereu;G. F. Dalla Betta;G. Soncini;G. Fontana;M. Bomben;L. Bosisio;P. Cristaudo;G. Giacomini;D. Iugovaz;L. Lanceri;I. Rashevskaya;L. Vitale;G. Venier

2010-01-01