CINECA IRIS Institutional Research Information System

Single Event Upset tests for a CMOS 0.35 micron front end and readout electronics for high-flux particle detectors

Fausti F;Hammad Ali O;Manganaro L;Monaco V;Sacchi R;Vignati A;Cirio R
2017-01-01
2017
2017 IEEE NSS/MIC/RTSD International Conference
Atlanta, USA
21–28 October 2017
2017 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference (NSS/MIC)
IEEE
1
5
https://ieeexplore.ieee.org/document/8532909
Fausti F, Mazza G, Attili A, Giordanengo S, Hammad Ali O, Manganaro L, Monaco V, Sacchi R, Vignati A, Cirio R
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2318/1732005
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