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Failure Analysis of Virtual and Physical Machines: Patterns, Causes and Characteristics

Birke R;
2014-01-01
2014
The 44th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks (DSN 2014)
Atlanta, GA, USA
June 2014
2014 44th Annual IEEE/IFIP International Conference on Dependable Systems and Networks
IEEE
1
12
978-1-4799-2773-9
Birke R; Giurgiu I; Chen L Y; Wiesmann D; Engbersen T
04A-Conference paper in volume
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