Attenzione: i dati modificati non sono ancora stati salvati. Per confermare inserimenti o cancellazioni di voci è necessario confermare con il tasto INSERISCI in fondo alla pagina
CINECA IRIS Institutional Research Information System
The observed cross sections for e+e-→μ+μ- at energies from 3.8 to 4.6 GeV are measured using data samples taken with the BESIII detector operated at the BEPCII collider. We measure the muonic widths and determine the branching fractions of the charmonium states ψ(4040), ψ(4160), and ψ(4415) decaying to μ+μ-, as well as making a first determination of the phase of the amplitudes. In addition, we observe evidence for a structure in the dimuon cross section near 4.220 GeV/c2, which we denote as S(4220). Analyzing a coherent sum of amplitudes yields eight solutions, one of which gives a mass of MS(4220)=4216.7±8.9±4.1 MeV/c2, a total width of ΓS(4220)tot=47.2±22.8±10.5 MeV, and a muonic width of ΓS(4220)μμ=1.53±1.26±0.54 keV, where the first uncertainties are statistical and the second systematic. The eight solutions give the central values of the mass, total width, muonic width to be, respectively, in the range from 4212.8 to 4219.4 MeV/c2, from 36.4 to 49.6 MeV, and from 1.09 to 1.53 keV. The statistical significance of the S(4220) signal is 3.9σ. Correcting the total dimuon cross section for radiative effects yields a statistical significance for this structure of 8.1σ.
Measurement of cross sections for e+e- →μ+μ- At center-of-mass energies from 3.80 to 4.60 GeV
Ablikim M.;Achasov M. N.;Adlarson P.;Ahmed S.;Albrecht M.;Amoroso A.;An Q.;Anita;Bai Y.;Bakina O.;Baldini Ferroli R.;Balossino I.;Ban Y.;Begzsuren K.;Bennett J. V.;Bertani M.;Bettoni D.;Bianchi F.;Biernat J.;Bloms J.;Bortone A.;Boyko I.;Briere R. A.;Cai H.;Cai X.;Calcaterra A.;Cao G. F.;Cao N.;Cetin S. A.;Chang J. F.;Chang W. L.;Chelkov G.;Chen D. Y.;Chen G.;Chen H. S.;Chen M. L.;Chen S. J.;Chen X. R.;Chen Y. B.;Cheng W.;Cibinetto G.;Cossio F.;Cui X. F.;Dai H. L.;Dai J. P.;Dai X. C.;Dbeyssi A.;De Boer R. B.;Dedovich D.;Deng Z. Y.;Denig A.;Denysenko I.;Destefanis M.;De Mori F.;Ding Y.;Dong C.;Dong J.;Dong L. Y.;Dong M. Y.;Du S. X.;Fang J.;Fang S. S.;Fang Y.;Farinelli R.;Fava L.;Feldbauer F.;Felici G.;Feng C. Q.;Fritsch M.;Fu C. D.;Fu Y.;Gao X. L.;Gao Y.;Gao Y.;Gao Y. G.;Garzia I.;Gersabeck E. M.;Goetzen K.;Gong L.;Gong W. X.;Gradl W.;Greco M.;Gu L. M.;Gu M. H.;Gu S.;Gu Y. T.;Guan C. Y.;Guo A. Q.;Guo L. B.;Guo R. P.;Guo Y. P.;Guo Y. P.;Guskov A.;Han S.;Han T. T.;Han T. Z.;Hao X. Q.;Harris F. A.;He K. L.;Heinsius F. H.;Held T.;Heng Y. K.;Himmelreich M.;Holtmann T.;Hou Y. R.;Hou Z. L.;Hu H. M.;Hu J. F.;Hu T.;Hu Y.;Huang G. S.;Huang L. Q.;Huang X. T.;Huang Z.;Huesken N.;Hussain T.;Ikegami Andersson W.;Imoehl W.;Irshad M.;Jaeger S.;Janchiv S.;Ji Q.;Ji Q. P.;Ji X. B.;Ji X. L.;Jiang H. B.;Jiang X. S.;Jiang X. Y.;Jiao J. B.;Jiao Z.;Jin S.;Jin Y.;Johansson T.;Kalantar-Nayestanaki N.;Kang X. S.;Kappert R.;Kavatsyuk M.;Ke B. C.;Keshk I. K.;Khoukaz A.;Kiese P.;Kiuchi R.;Kliemt R.;Koch L.;Kolcu O. B.;Kopf B.;Kuemmel M.;Kuessner M.;Kupsc A.;Kurth M. G.;Kuhn W.;Lane J. J.;Lange J. S.;Larin P.;Lavezzi L.;Leithoff H.;Lellmann M.;Lenz T.;Li C.;Li C. H.;Li C.;Li D. M.;Li F.;Li G.;Li H. B.;Li H. J.;Li J. L.;Li J. Q.;Li K.;Li L. K.;Li L.;Li P. L.;Li P. R.;Li S. Y.;Li W. D.;Li W. G.;Li X. H.;Li X. L.;Li Z. B.;Li Z. Y.;Liang H.;Liang H.;Liang Y. F.;Liang Y. T.;Liao L. Z.;Libby J.;Lin C. X.;Liu B.;Liu B. J.;Liu C. X.;Liu D.;Liu D. Y.;Liu F. H.;Liu F.;Liu F.;Liu H. B.;Liu H. M.;Liu H.;Liu H.;Liu J. B.;Liu J. Y.;Liu K.;Liu K. Y.;Liu K.;Liu L.;Liu L. Y.;Liu Q.;Liu S. B.;Liu T.;Liu X.;Liu Y. B.;Liu Z. A.;Liu Z. Q.;Long Y. F.;Lou X. C.;Lu H. J.;Lu J. D.;Lu J. G.;Lu X. L.;Lu Y.;Lu Y. P.;Luo C. L.;Luo M. X.;Luo P. W.;Luo T.;Luo X. L.;Lusso S.;Lyu X. R.;Ma F. C.;Ma H. L.;Ma L. L.;Ma M. M.;Ma Q. M.;Ma R. Q.;Ma R. T.;Ma X. N.;Ma X. X.;Ma X. Y.;Ma Y. M.;Maas F. E.;Maggiora M.;Maldaner S.;Malde S.;Malik Q. A.;Mangoni A.;Mao Y. J.;Mao Z. P.;Marcello S.;Meng Z. X.;Messchendorp J. G.;Mezzadri G.;Min T. J.;Mitchell R. E.;Mo X. H.;Mo Y. J.;Muchnoi N. Yu.;Nakhoul S.;Nefedov Y.;Nerling F.;Nikolaev I. B.;Ning Z.;Nisar S.;Olsen S. L.;Ouyang Q.;Pacetti S.;Pan Y.;Papenbrock M.;Pathak A.;Patteri P.;Pelizaeus M.;Peng H. P.;Peters K.;Pettersson J.;Ping J. L.;Ping R. G.;Pitka A.;Prasad V.;Qi H.;Qi H. R.;Qi M.;Qi T. Y.;Qian S.;Qian W. -B.;Qiao C. F.;Qin L. Q.;Qin X. P.;Qin X. S.;Qin Z. H.;Qiu J. F.;Qu S. Q.;Rashid K. H.;Ravindran K.;Redmer C. F.;Rivetti A.;Rodin V.;Rolo M.;Rong G.;Rosner C.;Rump M.;Sarantsev A.;Savrie M.;Schelhaas Y.;Schnier C.;Schoenning K.;Shan W.;Shan X. Y.;Shao M.;Shen C. P.;Shen P. X.;Shen X. Y.;Shi H. C.;Shi R. S.;Shi X.;Shi X. D.;Song J. J.;Song Q. Q.;Song Y. X.;Sosio S.;Spataro S.;Sui F. F.;Sun G. X.;Sun J. F.;Sun L.;Sun S. S.;Sun T.;Sun W. Y.;Sun Y. J.;Sun Y. K.;Sun Y. Z.;Sun Z. T.;Tan Y. X.;Tang C. J.;Tang G. Y.;Tang J.;Thoren V.;Tsednee B.;Uman I.;Wang B.;Wang B. L.;Wang C. W.;Wang D. Y.;Wang H. P.;Wang K.;Wang L. L.;Wang M.;Wang M. Z.;Wang M.;Wang W. P.;Wang X.;Wang X. F.;Wang X. L.;Wang Y.;Wang Y.;Wang Y. D.;Wang Y. F.;Wang Y. Q.;Wang Z.;Wang Z. Y.;Wang Z.;Wang Z.;Weber T.;Wei D. H.;Weidenkaff P.;Weidner F.;Wen H. W.;Wen S. P.;White D. J.;Wiedner U.;Wilkinson G.;Wolke M.;Wollenberg L.;Wu J. F.;Wu L. H.;Wu L. J.;Wu X.;Wu Z.;Xia L.;Xiao H.;Xiao S. Y.;Xiao Y. J.;Xiao Z. J.;Xie X. H.;Xie Y. G.;Xie Y. H.;Xing T. Y.;Xiong X. A.;Xu G. F.;Xu J. J.;Xu Q. J.;Xu W.;Xu X. P.;Yan L.;Yan L.;Yan W. B.;Yan W. C.;Yang H. J.;Yang H. X.;Yang L.;Yang R. X.;Yang S. L.;Yang Y. H.;Yang Y. X.;Yang Y.;Yang Z.;Ye M.;Ye M. H.;Yin J. H.;You Z. Y.;Yu B. X.;Yu C. X.;Yu G.;Yu J. S.;Yu T.;Yuan C. Z.;Yuan W.;Yuan X. Q.;Yuan Y.;Yue C. X.;Yuncu A.;Zafar A. A.;Zeng Y.;Zhang B. X.;Zhang G.;Zhang H. H.;Zhang H. Y.;Zhang J. L.;Zhang J. Q.;Zhang J. W.;Zhang J. Y.;Zhang J. Z.;Zhang J.;Zhang J.;Zhang L.;Zhang L.;Zhang S.;Zhang S. F.;Zhang T. J.;Zhang X. Y.;Zhang Y.;Zhang Y. H.;Zhang Y. T.;Zhang Y.;Zhang Y.;Zhang Y.;Zhang Z. H.;Zhang Z. Y.;Zhao G.;Zhao J.;Zhao J. Y.;Zhao J. Z.;Zhao L.;Zhao L.;Zhao M. G.;Zhao Q.;Zhao S. J.;Zhao Y. B.;Zhao Y. X. Z.;Zhao Z. G.;Zhemchugov A.;Zheng B.;Zheng J. P.;Zheng Y.;Zheng Y. H.;Zhong B.;Zhong C.;Zhou L. P.;Zhou Q.;Zhou X.;Zhou X. K.;Zhou X. R.;Zhu A. N.;Zhu J.;Zhu K.;Zhu K. J.;Zhu S. H.;Zhu W. J.;Zhu X. L.;Zhu Y. C.;Zhu Z. A.;Zou B. S.;Zou J. H.
2020-01-01
Abstract
The observed cross sections for e+e-→μ+μ- at energies from 3.8 to 4.6 GeV are measured using data samples taken with the BESIII detector operated at the BEPCII collider. We measure the muonic widths and determine the branching fractions of the charmonium states ψ(4040), ψ(4160), and ψ(4415) decaying to μ+μ-, as well as making a first determination of the phase of the amplitudes. In addition, we observe evidence for a structure in the dimuon cross section near 4.220 GeV/c2, which we denote as S(4220). Analyzing a coherent sum of amplitudes yields eight solutions, one of which gives a mass of MS(4220)=4216.7±8.9±4.1 MeV/c2, a total width of ΓS(4220)tot=47.2±22.8±10.5 MeV, and a muonic width of ΓS(4220)μμ=1.53±1.26±0.54 keV, where the first uncertainties are statistical and the second systematic. The eight solutions give the central values of the mass, total width, muonic width to be, respectively, in the range from 4212.8 to 4219.4 MeV/c2, from 36.4 to 49.6 MeV, and from 1.09 to 1.53 keV. The statistical significance of the S(4220) signal is 3.9σ. Correcting the total dimuon cross section for radiative effects yields a statistical significance for this structure of 8.1σ.
Ablikim M.; Achasov M.N.; Adlarson P.; Ahmed S.; Albrecht M.; Amoroso A.; An Q.; Anita; Bai Y.; Bakina O.; Baldini Ferroli R.; Balossino I.; Ban Y.; Begzsuren K.; Bennett J.V.; Bertani M.; Bettoni D.; Bianchi F.; Biernat J.; Bloms J.; Bortone A.; Boyko I.; Briere R.A.; Cai H.; Cai X.; Calcaterra A.; Cao G.F.; Cao N.; Cetin S.A.; Chang J.F.; Chang W.L.; Chelkov G.; Chen D.Y.; Chen G.; Chen H.S.; Chen M.L.; Chen S.J.; Chen X.R.; Chen Y.B.; Cheng W.; Cibinetto G.; Cossio F.; Cui X.F.; Dai H.L.; Dai J.P.; Dai X.C.; Dbeyssi A.; De Boer R.B.; Dedovich D.; Deng Z.Y.; Denig A.; Denysenko I.; Destefanis M.; De Mori F.; Ding Y.; Dong C.; Dong J.; Dong L.Y.; Dong M.Y.; Du S.X.; Fang J.; Fang S.S.; Fang Y.; Farinelli R.; Fava L.; Feldbauer F.; Felici G.; Feng C.Q.; Fritsch M.; Fu C.D.; Fu Y.; Gao X.L.; Gao Y.; Gao Y.; Gao Y.G.; Garzia I.; Gersabeck E.M.; Goetzen K.; Gong L.; Gong W.X.; Gradl W.; Greco M.; Gu L.M.; Gu M.H.; Gu S.; Gu Y.T.; Guan C.Y.; Guo A.Q.; Guo L.B.; Guo R.P.; Guo Y.P.; Guo Y.P.; Guskov A.; Han S.; Han T.T.; Han T.Z.; Hao X.Q.; Harris F.A.; He K.L.; Heinsius F.H.; Held T.; Heng Y.K.; Himmelreich M.; Holtmann T.; Hou Y.R.; Hou Z.L.; Hu H.M.; Hu J.F.; Hu T.; Hu Y.; Huang G.S.; Huang L.Q.; Huang X.T.; Huang Z.; Huesken N.; Hussain T.; Ikegami Andersson W.; Imoehl W.; Irshad M.; Jaeger S.; Janchiv S.; Ji Q.; Ji Q.P.; Ji X.B.; Ji X.L.; Jiang H.B.; Jiang X.S.; Jiang X.Y.; Jiao J.B.; Jiao Z.; Jin S.; Jin Y.; Johansson T.; Kalantar-Nayestanaki N.; Kang X.S.; Kappert R.; Kavatsyuk M.; Ke B.C.; Keshk I.K.; Khoukaz A.; Kiese P.; Kiuchi R.; Kliemt R.; Koch L.; Kolcu O.B.; Kopf B.; Kuemmel M.; Kuessner M.; Kupsc A.; Kurth M.G.; Kuhn W.; Lane J.J.; Lange J.S.; Larin P.; Lavezzi L.; Leithoff H.; Lellmann M.; Lenz T.; Li C.; Li C.H.; Li C.; Li D.M.; Li F.; Li G.; Li H.B.; Li H.J.; Li J.L.; Li J.Q.; Li K.; Li L.K.; Li L.; Li P.L.; Li P.R.; Li S.Y.; Li W.D.; Li W.G.; Li X.H.; Li X.L.; Li Z.B.; Li Z.Y.; Liang H.; Liang H.; Liang Y.F.; Liang Y.T.; Liao L.Z.; Libby J.; Lin C.X.; Liu B.; Liu B.J.; Liu C.X.; Liu D.; Liu D.Y.; Liu F.H.; Liu F.; Liu F.; Liu H.B.; Liu H.M.; Liu H.; Liu H.; Liu J.B.; Liu J.Y.; Liu K.; Liu K.Y.; Liu K.; Liu L.; Liu L.Y.; Liu Q.; Liu S.B.; Liu T.; Liu X.; Liu Y.B.; Liu Z.A.; Liu Z.Q.; Long Y.F.; Lou X.C.; Lu H.J.; Lu J.D.; Lu J.G.; Lu X.L.; Lu Y.; Lu Y.P.; Luo C.L.; Luo M.X.; Luo P.W.; Luo T.; Luo X.L.; Lusso S.; Lyu X.R.; Ma F.C.; Ma H.L.; Ma L.L.; Ma M.M.; Ma Q.M.; Ma R.Q.; Ma R.T.; Ma X.N.; Ma X.X.; Ma X.Y.; Ma Y.M.; Maas F.E.; Maggiora M.; Maldaner S.; Malde S.; Malik Q.A.; Mangoni A.; Mao Y.J.; Mao Z.P.; Marcello S.; Meng Z.X.; Messchendorp J.G.; Mezzadri G.; Min T.J.; Mitchell R.E.; Mo X.H.; Mo Y.J.; Muchnoi N.Yu.; Nakhoul S.; Nefedov Y.; Nerling F.; Nikolaev I.B.; Ning Z.; Nisar S.; Olsen S.L.; Ouyang Q.; Pacetti S.; Pan Y.; Papenbrock M.; Pathak A.; Patteri P.; Pelizaeus M.; Peng H.P.; Peters K.; Pettersson J.; Ping J.L.; Ping R.G.; Pitka A.; Prasad V.; Qi H.; Qi H.R.; Qi M.; Qi T.Y.; Qian S.; Qian W.-B.; Qiao C.F.; Qin L.Q.; Qin X.P.; Qin X.S.; Qin Z.H.; Qiu J.F.; Qu S.Q.; Rashid K.H.; Ravindran K.; Redmer C.F.; Rivetti A.; Rodin V.; Rolo M.; Rong G.; Rosner C.; Rump M.; Sarantsev A.; Savrie M.; Schelhaas Y.; Schnier C.; Schoenning K.; Shan W.; Shan X.Y.; Shao M.; Shen C.P.; Shen P.X.; Shen X.Y.; Shi H.C.; Shi R.S.; Shi X.; Shi X.D.; Song J.J.; Song Q.Q.; Song Y.X.; Sosio S.; Spataro S.; Sui F.F.; Sun G.X.; Sun J.F.; Sun L.; Sun S.S.; Sun T.; Sun W.Y.; Sun Y.J.; Sun Y.K.; Sun Y.Z.; Sun Z.T.; Tan Y.X.; Tang C.J.; Tang G.Y.; Tang J.; Thoren V.; Tsednee B.; Uman I.; Wang B.; Wang B.L.; Wang C.W.; Wang D.Y.; Wang H.P.; Wang K.; Wang L.L.; Wang M.; Wang M.Z.; Wang M.; Wang W.P.; Wang X.; Wang X.F.; Wang X.L.; Wang Y.; Wang Y.; Wang Y.D.; Wang Y.F.; Wang Y.Q.; Wang Z.; Wang Z.Y.; Wang Z.; Wang Z.; Weber T.; Wei D.H.; Weidenkaff P.; Weidner F.; Wen H.W.; Wen S.P.; White D.J.; Wiedner U.; Wilkinson G.; Wolke M.; Wollenberg L.; Wu J.F.; Wu L.H.; Wu L.J.; Wu X.; Wu Z.; Xia L.; Xiao H.; Xiao S.Y.; Xiao Y.J.; Xiao Z.J.; Xie X.H.; Xie Y.G.; Xie Y.H.; Xing T.Y.; Xiong X.A.; Xu G.F.; Xu J.J.; Xu Q.J.; Xu W.; Xu X.P.; Yan L.; Yan L.; Yan W.B.; Yan W.C.; Yang H.J.; Yang H.X.; Yang L.; Yang R.X.; Yang S.L.; Yang Y.H.; Yang Y.X.; Yang Y.; Yang Z.; Ye M.; Ye M.H.; Yin J.H.; You Z.Y.; Yu B.X.; Yu C.X.; Yu G.; Yu J.S.; Yu T.; Yuan C.Z.; Yuan W.; Yuan X.Q.; Yuan Y.; Yue C.X.; Yuncu A.; Zafar A.A.; Zeng Y.; Zhang B.X.; Zhang G.; Zhang H.H.; Zhang H.Y.; Zhang J.L.; Zhang J.Q.; Zhang J.W.; Zhang J.Y.; Zhang J.Z.; Zhang J.; Zhang J.; Zhang L.; Zhang L.; Zhang S.; Zhang S.F.; Zhang T.J.; Zhang X.Y.; Zhang Y.; Zhang Y.H.; Zhang Y.T.; Zhang Y.; Zhang Y.; Zhang Y.; Zhang Z.H.; Zhang Z.Y.; Zhao G.; Zhao J.; Zhao J.Y.; Zhao J.Z.; Zhao L.; Zhao L.; Zhao M.G.; Zhao Q.; Zhao S.J.; Zhao Y.B.; Zhao Y.X.Z.; Zhao Z.G.; Zhemchugov A.; Zheng B.; Zheng J.P.; Zheng Y.; Zheng Y.H.; Zhong B.; Zhong C.; Zhou L.P.; Zhou Q.; Zhou X.; Zhou X.K.; Zhou X.R.; Zhu A.N.; Zhu J.; Zhu K.; Zhu K.J.; Zhu S.H.; Zhu W.J.; Zhu X.L.; Zhu Y.C.; Zhu Z.A.; Zou B.S.; Zou J.H.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/2318/1796369
Citazioni
ND
5
2
social impact
Conferma cancellazione
Sei sicuro che questo prodotto debba essere cancellato?
simulazione ASN
Il report seguente simula gli indicatori relativi alla produzione scientifica in relazione alle soglie ASN 2023-2025 del proprio SC/SSD. Si ricorda che il superamento dei valori soglia (almeno 2 su 3) è requisito necessario ma non sufficiente al conseguimento dell'abilitazione.
La simulazione si basa sui dati IRIS e presenta gli indicatori calcolati alla data indicata sul report. Si ricorda che in sede di domanda ASN presso il MIUR gli indicatori saranno invece calcolati a partire dal 1° gennaio rispettivamente del quinto/decimo/quindicesimo anno precedente la scadenza del quadrimestre di presentazione della domanda (art 2 del DM 598/2018).
In questa simulazione pertanto il valore degli indicatori potrà differire da quello conteggiato all’atto della domanda ASN effettuata presso il MIUR a seguito di:
Correzioni imputabili a eventuali periodi di congedo obbligatorio, che in sede di domanda ASN danno diritto a incrementi percentuali dei valori.
Presenza di eventuali errori di catalogazione e/o dati mancanti in IRIS
Variabilità nel tempo dei valori citazionali (per i settori bibliometrici)
Variabilità della finestra temporale considerata in funzione della sessione di domanda ASN a cui si partecipa.
La presente simulazione è stata realizzata sulla base delle regole riportate nel DM 598/2018 e dell'allegata Tabella A e delle specifiche definite all'interno del Focus Group Cineca relativo al modulo IRIS ER. Il Cineca non si assume alcuna responsabilità in merito all'uso che il diretto interessato o terzi faranno della simulazione.
